某产品在进行静电放电抗扰度测试时，当对产品中某PCB的DB连接器外壳（如下图所示）进行静电放电（-4KV 接触放电）时，出现系统复位的现象。

  后来检查该DB连接器，发现该连接器的外壳没有和金属外壳形成良好的搭接，用导电胶将DB连接器与外壳良好搭接后，再来测试（-6KV接触放电），工作正常，系统不再复位。

  究竟是什么问题造成的呢？想要分析静电带来的问题时可以从下面几方面来考虑：

  静电放电（如下图所示）是一种瞬态能量高，宽频谱的一种电磁骚扰 ，它主要是通过以下两种途径来干扰EUT：

  如前面所述，在测试中发现DB连接器的金属外壳和产品外壳之间有很明显的缝隙，从电路的角度来看，这个缝隙就等效为一个阻抗，在DB外壳上的静电放电电流（如图中虚线所示）的作用下，就会产生较高的压降ΔＵ

  在 ΔＵ 存在的情况下，必然导致一部分静电放电电流经分布电容Cp流向地平面， 最后流向大地，如图中虚线 Ａ 所示。

  实际上，PCB中的地平面也并不是理想的地面，其并不完整（完整的地平面阻抗为3mΩ），存在一定的阻抗，因为一般地平面上一定有过孔，过孔的缝隙会导致阻抗不连续。

  当干扰电流流经工作地平面时，由于阻抗的存在， 就会出现压降 ΔU1 ， 而这个 ΔU1就是造成电路混乱的元凶。

  通过以上分析，我们大家可以认为，如果阻抗不连续，干扰信号就很难较快地泄放，这样就会通过分布电容耦合到内部电路，从而出现损坏或者内部电路混乱。

  如果搭接良好，静电就会很快泄放到外壳上并导入到大地上（前提是外壳也接好大地）。

  另外搭接良好，会使外壳具有更加好的屏蔽效果，在静电泄放过程中产生的电磁场就会被屏蔽在外壳外部， 来保证了内部电路的稳定。

  为了确保DB连接器的金属外壳与产品外壳之间的良好连接，能够正常的使用螺钉将DB连接器固定在外壳上，以确保DB连接器与金属面板之间的紧密连接。

  这样做能保持DB连接器外壳和金属外壳之间的电连续性。这不但可以提高整个设备的屏蔽效能，还可以迅速将静电骚扰电流通过金属外壳释放，从而解决了这样的一个问题。